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GK-HTRB高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)
系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的二極管、三極管、半橋、場效應(yīng)管、可控硅、IGBT等系列器件在高溫高濕環(huán)境下進(jìn)行反向偏壓試驗(yàn)。
技術(shù)特點(diǎn)：
①實(shí)時(shí)監(jiān)測每個(gè)器件的反偏電壓、漏電流；
②每個(gè)器件對(duì)應(yīng)一個(gè)快速熔斷保險(xiǎn)絲，保險(xiǎn)絲板置于常溫環(huán)下避免高溫高濕環(huán)境對(duì)保險(xiǎn)管的影響；
③整個(gè)試驗(yàn)過程的數(shù)據(jù)（漏電流、反偏電壓、溫度、濕度）記錄并存儲(chǔ)。并輸出為Excel報(bào)表和繪制全過程漏電流IR曲線。
④可根據(jù)用戶的需求，定制各種老化板及測試程序。
heating
高溫加熱
內(nèi)部加熱 保持不壞
真金不怕火煉，超強(qiáng)耐高溫
超級(jí)耐高溫
保持高品質(zhì)
內(nèi)部加熱原理
產(chǎn)品參數(shù) GK-HTRB-C16
Product parameters
適用器件：各種封裝的二極管、三極管、場效應(yīng)管、可控硅、IGBT等器件進(jìn)行高溫反偏試驗(yàn)（HTRB）和高溫柵偏試驗(yàn)（HTGB）
試驗(yàn)溫度：溫度范圍：（環(huán)境溫度＋20）℃～＋200℃；分辨率≤0.1℃；溫度均勻性：±1.0℃；溫度偏差：±1.0℃ at ＋100℃，±1.5℃ at ＋200℃；
溫度波動(dòng)度：±0.1℃ at ＋100℃，±0.2℃ at ＋200℃；單腔內(nèi)部尺寸≥600*600*600（mm），總內(nèi)容積≥216 L ；
帶可程序設(shè)計(jì)計(jì)時(shí)控制開關(guān)裝置，雙重超溫保護(hù)功能。
試驗(yàn)通道：16個(gè)試驗(yàn)通道(試驗(yàn)區(qū)8區(qū)，電源8臺(tái),提供老化板16塊)
試驗(yàn)容量：80×16=1280位
電源規(guī)格：有20V、100V、200V、300V、600V、1000V、1200V、2000V電源規(guī)格可供選擇（柵極電源：每通道獨(dú)立電源，電壓±30V）
基本功能：
斷電保護(hù)：如突然斷電；工控機(jī)會(huì)有UPS確保試驗(yàn)數(shù)據(jù)的安全保存，同時(shí)記錄斷電時(shí)間。此時(shí)，報(bào)警燈會(huì)提醒斷電（直至 UPS電源耗盡），系統(tǒng)電源切斷。當(dāng)再次來電時(shí)，整機(jī)不會(huì)自動(dòng)啟動(dòng)，直至人工干預(yù)再繼續(xù)工作。
遠(yuǎn)程監(jiān)控：能遠(yuǎn)程監(jiān)控，可在手機(jī)端查詢實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)并可進(jìn)行相關(guān)控制操作。
系統(tǒng)功能：
①、試驗(yàn)每通道電壓/工位漏電流檢測/試驗(yàn)箱溫度檢測；②、老化板插板狀態(tài)檢測；③、驅(qū)動(dòng)板通信狀態(tài)檢測；④、每工位高壓擊穿保護(hù)（每工位串聯(lián)一個(gè)快熔陶瓷保險(xiǎn)絲）。⑤、具備測試數(shù)據(jù)自動(dòng)生成可編輯試驗(yàn)報(bào)告，報(bào)表采用 EXCEL 格式。⑥、可實(shí)時(shí)監(jiān)控每工位漏電流并描繪出漏電曲線。⑦、支持入網(wǎng)，可 Web 端遠(yuǎn)程監(jiān)控。
擴(kuò)展功能：
可根據(jù)客戶需求定制；
工控機(jī)：內(nèi)存16G，固態(tài)硬盤1TB，機(jī)械硬盤1T
外形尺寸：W1450mmхH1890mmхD1379mm
重 量：約600kg
產(chǎn)品參數(shù) Product parameters
GK-HTRB-C8
主要特點(diǎn)：小型化設(shè)備，設(shè)備的寬度為0.72米，可進(jìn)出客運(yùn)電梯，適用于小批量的高溫反偏試驗(yàn)。
高溫試驗(yàn)箱：LC-213高溫試驗(yàn)箱1臺(tái)
基礎(chǔ)功能：漏電流上限、試驗(yàn)電壓上限、溫度上限的設(shè)定；老化時(shí)間的設(shè)定；
實(shí)時(shí)監(jiān)測并顯示每通道的老化時(shí)間、老化進(jìn)度、失效工位數(shù)等；
實(shí)時(shí)顯示并記錄保存老化參數(shù)（每工位IR、VR、Temp）；
實(shí)時(shí)判斷是否超限，超限報(bào)警并記錄超限工位及超限時(shí)間；
實(shí)時(shí)顯示每工位的最大IR值，并顯示最大IR值產(chǎn)生時(shí)間；
老化參數(shù)方便調(diào)用、可生成試驗(yàn)報(bào)表、可繪制漏電流變化曲線。
擴(kuò)展功能：A、保護(hù)元件置于高溫環(huán)境外；
B、適用于橋堆、MOS模塊的試驗(yàn)（正負(fù)雙路電源同時(shí)施加）；
C、適用于雙向TVS、Zener器件試驗(yàn)的自動(dòng)換向功能（電源按設(shè)定時(shí)間自動(dòng)調(diào)換正負(fù)極性）；
產(chǎn)品參數(shù) Product parameters
GK-HTRB-H8
技術(shù)特點(diǎn)：
①實(shí)時(shí)監(jiān)測每個(gè)器件的反偏電壓、漏電流；
②每個(gè)器件對(duì)應(yīng)一個(gè)快速熔斷保險(xiǎn)絲，保險(xiǎn)絲板置于常溫環(huán)下避免高溫高濕環(huán)境對(duì)保險(xiǎn)管的影響；
③整個(gè)試驗(yàn)過程的數(shù)據(jù)（漏電流、反偏電壓、溫度、濕度）記錄并存儲(chǔ)。并輸出為Excel報(bào)表和繪制全過程漏電流IR曲線；
④可根據(jù)用戶的需求，定制各種老化板及測試程序；
⑤用于IGBT模塊的試驗(yàn)，最高試驗(yàn)電壓可達(dá)8000V，提供多種結(jié)溫測試方法；
符合標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
試驗(yàn)通道：4個(gè)試驗(yàn)通道
試驗(yàn)容量：5×4=20位
基本功能：
漏電流上限、試驗(yàn)電壓上限、溫度上限的設(shè)定；老化時(shí)間的設(shè)定；
實(shí)時(shí)監(jiān)測并顯示每通道的老化時(shí)間、老化進(jìn)度、失效工位數(shù)等；
實(shí)時(shí)顯示并記錄保存老化參數(shù)（每工位IR、VR、Temp）；
實(shí)時(shí)判斷是否超限，超限報(bào)警并記錄超限工位及超限時(shí)間；
實(shí)時(shí)顯示每工位的最大IR值，并顯示最大IR值產(chǎn)生時(shí)間；
老化參數(shù)方便調(diào)用、可生成試驗(yàn)報(bào)表、可繪制漏電流變化曲線。
擴(kuò)展功能
A、保護(hù)元件置于高溫環(huán)境外；
B、測量DUT的熱敏參數(shù)（K系數(shù)）；
C、測量DUT的結(jié)溫Tj值（通過電學(xué)法測量）；
外形尺寸：W1360mmхH1820mmхD1320mm
重 量：約500kg
產(chǎn)品參數(shù) Product parameters
GK-HTRB-T8
★技術(shù)特點(diǎn)：
①實(shí)時(shí)監(jiān)測每個(gè)器件的反偏電壓、漏電流；
②每個(gè)器件對(duì)應(yīng)一個(gè)快速熔斷保險(xiǎn)絲，保險(xiǎn)絲板置于常溫環(huán)下避免高溫高濕環(huán)境對(duì)保險(xiǎn)管的影響；
③整個(gè)試驗(yàn)過程的數(shù)據(jù)（漏電流、反偏電壓、溫度、濕度）記錄并存儲(chǔ)。并輸出為Excel報(bào)表和繪制全過程漏電流IR曲線；
④可根據(jù)用戶的需求，定制各種老化板及測試程序；
⑤帶結(jié)溫測試功能，可實(shí)時(shí)顯示DUT的結(jié)溫，通過簡單的設(shè)定，可使器件在Tjmax條件下進(jìn)行試驗(yàn)。
符合標(biāo)準(zhǔn)：試驗(yàn)線路及試驗(yàn)方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
試驗(yàn)通道：8個(gè)試驗(yàn)通道
試驗(yàn)容量：80×8=640位
基本功能：
漏電流上限、試驗(yàn)電壓上限、溫度上限的設(shè)定；老化時(shí)間的設(shè)定；
實(shí)時(shí)監(jiān)測并顯示每通道的老化時(shí)間、老化進(jìn)度、失效工位數(shù)等；
實(shí)時(shí)顯示并記錄保存老化參數(shù)（每工位IR、VR、Temp）；
實(shí)時(shí)判斷是否超限，超限報(bào)警并記錄超限工位及超限時(shí)間；
實(shí)時(shí)顯示每工位的最大IR值，并顯示最大IR值產(chǎn)生時(shí)間；
老化參數(shù)方便調(diào)用、可生成試驗(yàn)報(bào)表、可繪制漏電流變化曲線。
擴(kuò)展功能：
A、保護(hù)元件置于高溫環(huán)境外；
B、測量DUT的熱敏參數(shù)（K系數(shù)）；
C、測量DUT的結(jié)溫Tj值（通過電學(xué)法測量）；
外形尺寸：W1360mmхH1820mmхD1320mm
重 量：約500kg
服務(wù)熱線
0571-8585 6333
聯(lián)系郵箱：[email protected]
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